OT-DTO1 红外焦平面探测器测试装置
红外焦平面探测器测试装置以高精度的光电测试设备为测试装置核心，建立高质量、高精度的测试系统，保证对被测红外焦平面进行高精度的电子学参数测试。
适 用 于 短 波 红 外 / 中 波 红 外 / 长 波 红 外 的 各 种 面 阵、 线 阵、 像元中心距为7.5μm/10μm/12μm/15μm/25μm/30μm 的制冷红外焦平面阵列。
系统可实时显示图像，可测试像元响应率及响应率不均匀性、噪声电压、探测率、噪声等效温差、有效像元率、固定图形噪声、噪声等效功率、饱和辐照功率、动态范围、相对光谱响应、读出速率、帧频、串音等性能参数。
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OT-DTO1 红外焦平面探测器测试装置
红外焦平面探测器测试装置以高精度的光电测试设备为测试装置核心，建立高质量、高精度的测试系统，保证对被测红外焦平面进行高精度的电子学参数测试。
适 用 于 短 波 红 外 / 中 波 红 外 / 长 波 红 外 的 各 种 面 阵、 线 阵、 像元中心距为7.5μm/10μm/12μm/15μm/25μm/30μm 的制冷红外焦平面阵列。
系统可实时显示图像，可测试像元响应率及响应率不均匀性、噪声电压、探测率、噪声等效温差、有效像元率、固定图形噪声、噪声等效功率、饱和辐照功率、动态范围、相对光谱响应、读出速率、帧频、串音等性能参数。
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